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商品説明
二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析:SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。【美品!! 日本語 検定テキスト ノート ビデオセット】。沢山の参考書。試験で点が取れる 有坂誠人の現代文速解・例の方法。ベスト教育社 VEST21 教材セット。米国公認会計士 TAC BECKER USCPA 全科目 2019edition。数学(私立大編) 94年度版お店の情報
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